描述:Sekidenko OR4000T 半導(dǎo)體高溫計(jì)可用于RTP、HDP-CVD、MOCVD、UV固化和其它各種半導(dǎo)體工藝過(guò)程,應(yīng)用于半導(dǎo)體硅片,外延,晶圓鍍膜等各種工藝的高精度測(cè)溫;OR4000T型具備多通道能力,支持高達(dá)2kHz的讀取速率,符合半導(dǎo)體應(yīng)用中極為嚴(yán)格的要求。其采用模塊化設(shè)計(jì),可快速量身定制。
品牌 | Advanced Energy/優(yōu)儀 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,航天,汽車,電氣 |
優(yōu)點(diǎn):
提高可重復(fù)性并顯著減小誤差提高生產(chǎn)率、產(chǎn)量和生產(chǎn)能力
·提高多個(gè)腔室和基材的穩(wěn)定性和可靠性
特點(diǎn):
·主動(dòng)輻射率檢測(cè)和補(bǔ)償
溫度和輻射率讀取速率快
·模塊化的結(jié)構(gòu)具有高靈活性
·全套I/O和外部觸發(fā)器/同步組件
技術(shù)參數(shù):
概述: | 多通道,高性能,測(cè)量速度高達(dá)2kHz |
通道配置: | 1-4通道,帶可選/固定發(fā)射系數(shù),每個(gè)通道可單獨(dú)配置 |
測(cè)溫范圍: | 50-3500°C |
實(shí)時(shí)發(fā)射系數(shù)范圍: | 無(wú) |
測(cè)量波長(zhǎng): | UV to 2300 nm |
讀取速率: | 高達(dá)2kHz |
測(cè)量精度: | ±1.5℃ |
重復(fù)精度: | ±0.1℃℃,正常情況下 |
分辨率: | 0.001℃C |
顯示: | 帶鍵盤輸入內(nèi)置,4x21LCD屏, |
數(shù)據(jù)I/O: | RS-232,RS-422/486, and Ethernet |
模擬輸出: | 0-10V或4-21mA |
控制接口: | 外部觸發(fā)輸入,同步輸出,高低報(bào)警 |
電源: | 交流:90 to 263 VAC, 47 to 63 Hz直流:24V DC |
環(huán)境參數(shù): | 5-40℃,非冷凝 |
物理尺寸: | 8.6 cm (H)x 15.2 cm (W) x 21.8 cm (D) |
重量: | 2.0kg |
安裝: | 底部M3X0.75螺孔 |
采樣響應(yīng)時(shí)間: | 2kHz采樣速率時(shí)<2ms |